イベント 【2020.04.13~開催】2020年度 第1回電子顕微鏡スクール(超高圧電子顕微鏡センター)

日時:2020年04月13日 10:00~17:00
   2020年04月14日 10:00~17:00
   2020年04月15日 10:00~17:00
場所:大阪大学 超高圧電子顕微鏡センター

透過電子顕微鏡あるいは電子顕微鏡試料作製装置を自分自身で操作できるようになるために、2,3日間の集中実習を行います。

物質材料科学・デバイス工学ならびに医学・生物学分野において透過電子顕微鏡による極微構造解析を必要ととし、当センターでのナノプラットフォーム支援事業
(http://www.uhvem.osaka-u.ac.jp/nanoplatform-kouzoukaiseki/index.html) に利用申請を予定している方は、この機会にご応募ください。

【対象者】
研究者、大阪大学の博士後期課程/医歯薬系博士課程の大学院生で、実習後にナノプラットフォーム支援事業に申請して当センターの電子顕微鏡や試料作製装置を利用した研究を開始される予定の方、または既に開始されている方

【申込方法】
電子メールにて、件名を「スクール参加申込」として、info-nanoplat(at)uhvem.osaka-u.ac.jp まで申込書(HP掲載)をお送りください

【申込締切】
3月12日(木)

【参加費】
無料

【実習内容】
※実習内容については変更する場合があります。

<物質・材料科学系>
A コース: 無機結晶微粒子・基板上薄膜のTEM/STEM 観察 定員3名
1.透過電子顕微鏡(TEM)の基本的な操作:試料出し入れ、レンズ光軸調整、等
2.電子回折図形の取得:多結晶リング解析、菊池線を用いた方位合わせ、等
3.高分解能電子顕微鏡(HRTEM)観察:結晶格子像の撮影、レンズ収差調整、等
4.走査型透過電子顕微鏡(STEM)観察: Z コントラスト観察、結晶構造の原子分解能観察
5.(進捗に応じて)EDX 元素分析

B コース: 無機結晶中の欠陥・転位の回折コントラスト観察 定員3名
1.透過電子顕微鏡(TEM)の基本的な操作:試料出し入れ、レンズ光軸調整、等
2.電子回折図形の取得:回折スポット指数付け、菊池線を用いた方位合わせ、等
3.結晶性試料の回折コントラスト観察:暗視野観察法、等厚干渉縞、転位の解析、等
4.(進捗に応じて)EDX 元素分析

C コース: 集束イオン研磨装置(FIB)によるTEM 試料作製 定員2名 備考:二日間のみ
1.FIB によるSi 薄片の切り出しと固定(マイクロサンプリング)
2.作製した試料のTEM 観察

<医学・生物学系>
D コース: 生物試料のクライオ電子顕微鏡観察 定員3名
1.凍結クライオ試料作製
2.クライオTEM 観察
3.単粒子解析のための自動収集

E コース: ミクロトームによるTEM 試料作製 定員2名 備考:二日間のみ
1.ミクロトームによる生物試料の薄切
2.染色作業
3.SEM,TEM による試料観察

【本件お問い合わせ先】
大阪大学超高圧電子顕微鏡センター ナノテクノロジープラットフォーム事務局
Tel:06-6879-7941
Mail:info-nanoplat(at)uhvem.osaka-u.ac.jp

大阪大学 ナノテクノロジー設備供用拠点 微細構造解析プラットフォーム HP

大阪大学 超高圧電子顕微鏡センター HP