イベント 5月10-12日開催 電子顕微鏡スクール
開催日時：5月10日（月）から12日（水）の朝１０時から夕方１７時までの時間帯に開催
開催場所：大阪大学 超高圧電子顕微鏡センター
申し込み方法等
透過電子顕微鏡あるいは電子顕微鏡試料作製装置を自分自身で操作できるようになるために、２，３日間の集中実習を行います
物質材料科学・デバイス工学ならびに医学・生物学分野において透過電子顕微鏡による極微構造解析を必要ととし、当センターでのナノプラットフォーム支援事業
(http://www.uhvem.osaka-u.ac.jp/nanoplatform-kouzoukaiseki/index.html) に利用申請を予定している方は、この機会にご応募ください
【対象者】研究者、大阪大学の博士後期課程/医歯薬系博士課程に在籍中の大学院生で、実習後にナノプラットフォーム支援事業に申請して当センターの電子顕微鏡や試料作製装置を利用した研究を開始される予定の方、または既に開始されている方
【申込方法】電子メールにて、件名を「スクール参加申込」として、info-nanoplat(at)uhvem.osaka-u.ac.jp まで申込書（HP掲載）をお送りください
【申込締切】3月31日（水） 【参加費】無料
【実習内容】 ※実習内容については変更する場合があります。
＜物質・材料科学系＞
A コース： 無機物質のTEM/STEM 観察 定員３名
１．透過電子顕微鏡(TEM)の基本的な操作：試料出し入れ、レンズ光軸調整、等
２．電子回折図形の取得：回折図形指数付け、方位合わせ、等
３．結晶性試料の回折コントラスト観察：暗視野観察法、等
４．高分解能電子顕微鏡（HRTEM）観察：結晶格子像の撮影、レンズ収差調整、等
５．走査型透過電子顕微鏡（STEM）観察： Z コントラスト観察、結晶構造の原子分解能観察
６．（進捗に応じて）EDX 元素分析
B コース： 集束イオン研磨装置（FIB）によるTEM 試料作製 定員２名
１．FIB による無機結晶薄片の切り出しと固定（マイクロサンプリング）
２．作製した試料のTEM 観察
C コース： 生物試料のクライオ電子顕微鏡観察 定員３名
１．凍結クライオ試料作製
２．クライオTEM 観察
３．単粒子解析のための自動収集
D コース： ミクロトームによるTEM 試料作製 定員２名
１．ミクロトームによる生物試料の薄切
２．染色作業
３．SEM,TEM による試料観察
E コース： 電子線トモグラフィーによる三次元観察 定員３名
１．試料準備
２．電子顕微鏡による連続傾斜像撮影
３．三次元再構成作業